Viscom MX100IR自动晶圆检查

时间：2008-03-06 作者：unionblog

　　自去年九月以来，Viscom已将他们的产品系列扩展到了针对半导体的检测解决方案，这样，Viscom 既可在SMT制造领域中提供早已闻名遐迩的检测质量的保证，如今也可在半导体检测领域大展拳脚，提供相应的质量保证。而桌面系统MX100IR特别适合于对小批量产品的灵活、可靠的检测。

　　桌面型系统MX100IR 是检测裸晶圆、芯片（Chips）、微机电系统（MEMS）、Wafer-Bonds、绝缘体上硅（SOI）和 FlipChips 的理想解决方案。另外，它还可运用于光电学产品领域。其中，晶圆可以由各种材料如硅、砷化镓或者其它三五价化合物半导体组成。装入和取出要检测的晶圆可手动的进行，所以，该系统特别适合于小批量产品的检测。

　　该系统采用的红外线光源是已获得的ThruTM-技术的部分。这些光源在近红外光范围可产生高效红外。在这一波长范围内，硅在几乎每一掺杂过程中都是透明的，因而，物体内部的缺陷可轻易并且可靠地检
测出来。这些光源可缩放大小，功能更加强大，保证了非常高的分辨率。

　　程序制作和维护可通过图形使用界面，简便快捷地进行。而系统评估是基于是可将气泡、焊缝宽度等缺陷可靠地识别出来的特殊的检测算法。同时，您还可同样进行完全的统计进程控制。